CAS 140CT-HR – 最适合在实验室和生产中精准测量激光二极管
高分辨率 CAS 140CT-HR 光谱仪基于 Instrument Systems 成功的 CAS 140CT
系列阵列光谱仪。它专为评估窄带发射源（激光器/VCSEL）而开发，以较短的测量时间提供极高的光谱分辨率。
具有冷却性能的 CCD 探测器支持复杂的光谱测量，并且具有极短的光脉冲、低暗电流和低噪声。由于 CAS 140CT-HR 可延长积分时间，因此还适合测量极弱的光源。
和 Instrument Systems 的所有 CAS 型号一样，CAS 140CT-HR 也有 PTB 可追溯校准。USB 标准接口可通过 PCIe 接口使用，提供多种触发选项。用于暗测量的集成轮式密度滤光片和光圈可实现完全自动测量，同时确保探测器具有极高的动态范围。
Instrument Systems 的 SpecWinPro 软件可用于实验室的综合测量。此外，CAS 140CT-HR 型号还与 DLL 和 LabVIEW 驱动程序兼容，可集成到定制程序和生产环境中。
使用 CAS 140CT-HR 测量激光二极管的各种应用
随着消费电子（如面部识别）、汽车工业 (LiDAR) 和材料加工（高性能二极管激光）等新技术的发展，激光二极管正被广泛用于新的应用领域。Instrument Systems 的高分辨率光谱仪可保证在开发实验室和生产中进行快速精确的测量。
CAS 140 CT-HR 型号涵盖数个 800 至 1000 nm 的窄测量范围，因此适用于所有窄带光源的典型测量要求
CAS 140CT-HR – 技术数据
型号 | Grating 1200 lines/mm | Grating 1200 lines/mm | Grating 1800 lines/mm |
|---|
光谱范围 | 805-975 nm | 840-1006 nm | 902-982 nm |
中心波长 | 888 nm | 923 nm | 941 nm |
光谱分辨率 (典型) | 0.4 nm | 0.4 nm | 0.2 nm |
数据点间隔 | 0.16 nm | 0.16 nm | 0.08 nm |
波长测量精度 | ±0.05 nm | ±0.05 nm | ±0.05 nm |
CAS 140D – 高精度光测量的全球公认标准
Instrument Systems 的最新高端 CAS 140D 阵列光谱仪被视为弱光源和高辐射度的高精度光谱光测量技术的基准。
该产品基于久经考验的交叉 Czerny-Turner 光谱仪并配备具有冷却性能的 CCD 探测器，具有以下特色
最高的测量准确度和杂散光抑制
再现性和稳定性
极短的积分时间
CAS 140D 的应用范围从国家校准实验室的标准仪器到生产中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一个特定质量属性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校准，我们所有的光谱仪都配备该校准功能。
与广泛的配件搭配组合，可以将光谱仪升级为一体化系统，适用于各种光谱辐射和光度测量任务。
在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算（可选），可进一步降低 CAS 140D 原本就极其出色的杂散光值。因此，该测量仪器也非常适合 UV-LED 的精准测量和 LED 光源危害等级（光生物安全）的测定。
面向 LED、照明设备或显示屏的一体化系统
CAS 140D 是 Instrument Systems 系统解决方案中的重要测量仪器。辅以功能强大的软件包（SpecWinPro、LumiSuite）、积分球、测角仪、图像色度测量仪和广泛配件，我们针对任何测量挑战提供最合适的一体化系统，按照您行业的当前标准量身定制。
无论是需要对个别 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 产品执行辐射或光度测量，还是需要评估基于 LED、OLED 或 μLED 的显示屏 – CAS 140D 适用于所有想得到的光度应用以及最新实验室和生产挑战。
CAS 140D – 技术数据
型号 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|---|
光谱范围 | 200-830 nm | 220-1020 nm 300-1100 nm | 360-830 nm | 380-1040 nm |
光谱分辨率
(100 μm 狭缝) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
数据点间隔 | 0.65 nm | 0.8 nm | 0.5 nm | 0.65 nm |
LED 的杂散光 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 |
波长测量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
CAS 140CT IR 系列 – 用于精确的红外辐射测量的阵列式光谱辐射仪
全球优质的 LED、照明设备和显示屏制造商都信任 Instrument Systems 的 CAS 阵列光谱仪的准确可靠的测量结果。
CAS 140CT 为红外测量应用开发两款型号： IR1（780 nm - 1650 nm）和 IR2（1500 nm - 2150 nm），用于测量 1100 nm 以上的波长。在 IR1 的测量范围内，我们更另外提供一款用于测量特别低的辐射通量（高灵敏度选项）的型号。
如同 Instrument Systems 公司所有的光谱辐射仪，红外光谱仪也有可追溯到 PTB 或 NIST 的校准。
MultiCAS 系统
通过与不同 CAS 140D 型号结合使用，CAS 140CT 可通过触发盒组合形成一个 MultiCAS 系统。因此，可以在极宽的波长范围内同时进行复杂的光谱测量，并对多个样品进行并行测量。
配套的 SpecWin Pro 分析软件的 MultiCAS 模块可在常用测量曲线中以用户友好的方式分析所有测量数据。
红外 LED 的开发和质量控制
CAS 140CT 的红外型号是 Instrument Systems 公司系统解决方案中的关键测量仪器之一。由于其使用寿命长，可靠性高，被用于宽带光源和红外 LED 的开发和质量控制。
与 CAS 的其他型号相结合，CAS 140CT 红外光谱辐射仪的测量范围具有极其广泛的应用范围。使用 Instrument Systems 公司的系统来解决您的测量任务，例如在透射、反射或光伏领域。
CAS 140CT IR 系列 – 技术数据
型号 | IR1 | IR1 High Gain | IR2 |
|---|
光谱范围 | 780 - 1650 nm | 780 - 1700 nm | 1500 - 2150 nm |
光谱分辨率 (100 μm 狭缝) | 9 nm | 9 nm | 15 nm |
数据点间隔 | 2.1 nm | 2.1 nm | 3.0 nm |
LED 杂散光 | 1·10-3 | 5·10-4 | n.a. |
波长测量精度 | ±0.5 nm | ±0.5 nm | ±0.2 nm |