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TOP 200 –用于辐射和亮度测量的光学探头

TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计,带有集成式取景相机。

      

产品特点:

•  普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15º 的孔镜,可以提供非常圆的清晰图像点

•  光纤的灵活连接和获取可重现读数的专利模式混合器,以及极低的偏振灵敏度

•  可通过软件选择的 6 种测量点大小

•  具有宽视场的内部取景相机

•  最小的测量点:80 µm

•  测试对象的可选照明


TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。


描述
规格
文件与下载

测量应用

测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的专利模式混合器可确保光纤中的光透射均匀,即使光纤位置改变,也可产生可重现读数。

普里查德原则支持在测量过程中观察视场,并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。


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