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TOP 200 –用于辐射和亮度测量的光学探头
TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。
l 普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15º 的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点
l 光纤的灵活连接和获取可重现读数的专利模式混合器，以及极低的偏振灵敏度
l 可通过软件选择的 6 种测量点大小
l 具有宽视场的内部取景相机
l 最小的测量点：80 µm
l 测试对象的可选照明
TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。
测量应用
测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的专利模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。
普里查德原则支持在测量过程中观察视场，并监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软件自动导入并与读数一起保存。
TOP200_150_EN.pdf