NVIS光谱仪的基本原理

  基于DTS140D的CAS140D高端阵列光谱仪，采用带有固定光栅的交叉Czerny-Turner光谱仪来同时捕获完整的光谱。

  需要分析的幅射光通过入口狭缝发射到光谱仪，并击中第一个凹面镜，由凹面镜对幅射光进行校准。然后，衍射光栅反射幅射光，并将其分光。最后由第二个凹面镜将幅射光聚集在CCD阵列探测器上。如右图所示。

DTS140D NVIS的应用领域

  根据 MIL-L-85762A/MIL-STD-3009 测量亮度和光谱NVIS辐射。

  光谱范围遵循 GOST PB 58-55-002-2010 测试。

  NVIS 辐照度测量 / NRI 根据SAE ARP 5825。

  按钮通过/失败测试和报告。

  支持对比度/太阳光可读性测量。

  发射模式/视角测量与自动定位系统DTS 500。

  光纤耦合伸缩光学探头允许驾驶舱有限空间测量。

DTS140D NVIS 功能列表

  四个可选择的光圈/不同的视野，由软件控制。

  从入口狭缝解耦的测量光斑/带通功能。因此所有光斑尺寸的结果是一致的。

  动态范围大，可扩展为全自动过滤轮。

  偏振被光纤耦合干扰。因此，液晶显示器/偏振光源没有负面影响（偏振误差＜1%）。

  最小的测量点为为75μm，HRL 90 (0.003 inch)。

  取景器具有大视野，可以在样品上轻松定位。图片可以显示在软件中，并且保存测量结果。

  目标照明是通过安装在TOP200上的鹅颈状LED聚光灯照明提供。

  完全兼容定位系统（如DTS500 系列）。可选的HRL 90碰撞保护。

  底噪声低于1*10^-12 W/m²sr.

  光谱范围380 - 1040 nm。

  可选杂散光矫正矩阵。