描述
WP512是一种独特新颖的成像光谱色度计,采用独特的技术集成一个高分辨率相机和一个内置光谱仪。
WP512 以卓越的性能满足产线上显示器和照明设备的持续高精度测试,减少多个分立仪器的麻烦。所有部件都集成在一个紧凑的设备中,带有一个电源连接口和一个GigE网口。
所有显示器类别和尺寸
WP512提供各种镜头,从显微镜头到广角镜头,可配置用于测量任何显示器尺寸,从微型显示器到智能手表、平板电脑、电视或电影院幕布。WP512配备行业标准的 EF 卡口镜头。支持焦距为 24 至 100 mm 的电控或手动镜头,以及高达 10 倍放大率的定焦显微镜头。此外,我们还提供用于测量+/-80 度视角的Conometer 镜头和用于分析AR和VR近眼显示器的潜望式NED镜头。
创新的内部结构
仪器设计优化了测试速度和灵敏度。无棱镜设计可以将所有光线直接进入相机或光谱辐射计,进而使低亮测量时间显著缩短了。WP512与众不同之处在于高速线性平移台。该平台具有多个孔位,用于切换使用RGB相机或光谱仪。此外,在RGB相机光路中可以切换使用ND1的衰减片,而在光谱仪光路中的可以切换使用ND1和ND2衰减片。在许多生产场景中,低亮测试的速度对测试时间影响很大。WP512无需将光线一分二,在进行低亮测试时比棱镜式仪器快两倍。ND衰减片适用于高亮产品的测量,对高亮产品光线进行衰减以增加最佳曝光时间。例如测量30Hz的显示器,需要曝光时间设置为33.3ms才能够最精准测量,而相机和光谱仪的曝光时间是亚毫秒,此时就可以选择使用合理的ND衰减。此外,该设计具有极低的偏振误差和最小的色度失真‐‐这两个参数都是影响测量精度的关键参数。方便的是,当相机成像时光谱仪关闭,反之亦然。这样,在不影响拍摄时间的情况下,可以在生产中进行频繁的暗电流校正。

光纤是固定的,平台左右移动。
顶部:ND1位于CMOS的前面。
中间:CMOS开放,前面没有ND。
底部:棱镜将光反射进入光纤/光谱仪。
AR/VR显示测试
潜望镜式的XR1近眼显示(NED)镜头能为AR、VR显示提供最优的测试方案。潜望镜式设计使镜头能高度适配眼镜、耳机和头盔等最终组件。人眼在不同的光照条件下瞳孔直径会变化。因此XR1提供前置可更换光阑,可在1.5mm到5.0mm之间选择。

畸变校正
选购并注册畸变校正助手,软件可协助用户进行镜头畸变校正。应用了畸变校正,被测显示器中的任何失真都会被显示和被分析。
视角
Conometer镜头可用于平板显示器和背光的视角测量,视角可达±80°。

光谱性能
仪器内集成了低噪声CMOS光谱仪,并针对颜色测量进行了优化。低杂散光和多重曝光的高动态范围双管齐下,使得颜色测量结果更加准确。
生产测试综合解决方案
WP512可以部署到所有生产应用程序中。
高精度光谱辐射计和相机都具有硬件出发功能,可以实现与其他设备同步测量。该相机使用先进的热管理技术来保持传感器的温度和灵敏度。风扇通风口上装有空气过滤器,使得电子设备区域保持清洁。软件可以自动识别电子镜头,并与校准文件进行匹配。还有各种LED和蜂鸣来指示仪器状态。此外,Westboro Photonics还提供现场重新校准软件,以最大限度地减少生产停机时间和与场外校准相关的其他成本。Westboro的Photonics的国际分销商网络和当地的再校准实验室可以提供完善的校准支持。均匀性评估显示器和照明的颜色不均匀性时,应仅限于测量白色或不饱和/非单色场景。一般来说,当任何原色的信号比率超过4:1时,RGB成像器的测试结果偏差就会很大。但如果显示器设置为红色、绿色或蓝色时存在不均匀性,则当显示器设置为白色时,这种问题通常也很明显,并且在生产中可能会省略色域点的二维测量。如果需要测量饱和色的颜色均匀性,建议使用WP525或MCIC等三刺激值滤片色度计。
平面显示测试
通过我们全面的显示屏性能和缺陷测试软件包,用户可以用较低的成本轻松地将设备部署到生产中。性能测试包括均匀性、伽马、色域、对比度和视角。缺陷测试包括点缺陷、线缺陷、mura、坏点、污染等。
适用广泛
Westboro Photonics还提供专门的附加软件包,进行特定应用的测试。例如均匀性,图形,造型线,光分布,抬头显示等等。

*规格为初步规格,除非另有说明,否则适用于图像中心直径为116像素的光斑、1米工作距离下光圈为F1.2的50mm镜头以及测量光源a.准确度和精度规格在校准后23°C+/-2°C下以及预热30分钟后。规格可能会发生变化。
1.不包括镜头和手柄。
2.CMOS的使用从260μs到8.2s曝光时间,且使用内部ND0和ND1以及F1.4、F2.8和F5.6光圈。
3.光谱仪使用0.5ms至8.2s的曝光时间,不使用多次测量求平均,使用内部ND0、ND1、ND2和ND3以及F1.2、F2.8和F5.6光圈。100次测量求平均可将噪声水平提高10倍并提高精度。
4.测量下限基于8.2s曝光时间的单次曝光和10:1的信噪比。平均多达100次测量可以将噪声水平降低10倍并提高精度。
5.重复测量的2σ偏差(使用自动单次或自动HDR,Y≈100cd/m2)。多次测量求平均可以提高精度。
6.校准后立即使用HDR模式和足够的信噪比来测量标准光源。
7.在不同偏振角度下测量宽带线偏振光的平均最大偏差。
8.使用SDK,最短的曝光时间和快速的电脑的测量时间。