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LIV测试功能特点


1.强大的软件分析功能,可以扫描测量LIV曲线,PCE曲线,温度-峰值波长-光功率曲线,可设置扫描精度和速度,可测量光电转换效率,自动保存测试数据

2.高精度光学分辨率光谱仪光谱范围400-1100nm可选,光谱分辨率0.1nm,实现光谱峰值波长和半高全宽(FWHM)测量,可实现2kHz采样速率,可扫描测量温度-峰值波长-功率曲线等

3.手动或全自动探针平台,可实现对晶圆或模组的自动化LIV光谱功率测试

4.可对样品精确控温,可设置扫描步长,可实现高速同步触发,可预设/自定义测量

5.多线程联用(大功率高精度电流源、高精度高速数字万用表、多通道同步数字万用表、功率探头、光谱仪、温度控制器等),可以实现光谱、功率、电流、温度等参数的程序化、自动化扫描测量

6.一体化工控机箱,高分辨液晶显示,自动化集成化操作软件

7.采用四线测量方法,实时记录实测电流、电压值,功率值,测试更准确

8.程序可设置连续及脉冲扫描两种模式

9.寿命老化检测功能:在恒定或脉冲条件下(电流、温度),每隔时间间隔测试记录一次光谱和功率数据


描述
规格
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LIV测试的目标


LIV(或PIV)是一种广泛用于光电材料、芯片、器件性能评估的测试。

多数情况下,LIV测试环境中,除了光功率、电流、电压测试,设计人员和测试人员还会利用已搭建的系统,加入温控和光谱测量的项目。通过对这些被测件的光功率、激励电流/电压、光谱,以及上述参数随温度的变化,经过计算和数据/图像处理,可以获得很多关键参数和图表,包括:

直接参数

可以直接读取或获得的测量值,如:工作电压;工作电流;光功率(通过探测器光电流标定参数);背光电流(如果有背光探测器);峰值波长;边模抑制比;温度等

间接参数

需要计算分析获得的激光参数,如:阈值电流;输出Kink(非线性);斜效率;转化效率;半高宽;等效电阻;结温等

可视图表

包括:L-I-V曲线(包括P-I、I-V、I-转换效率等);波长-I曲线;波长-温度曲线;功率-温度曲线;工作电压-温度曲线;其它需要的多维视图等

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LIV参考系统框图

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