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PKG-Uniformity
l 可一次分析多个显示屏
l 生成用户定义的AOI模式
l 突出显示最小和最大亮度点位置
l 自由编辑均匀性结果
l DFF点扫描均匀性
l 测量快速
亮度和色度均匀性是显示器和背光的重要性能指标。通常固定显示区域中的测试网格来测量均匀性。均匀性分析套件使均匀性分析简单而快速
- 定义简单或非常复杂的兴趣区(AOI)阵列
- 自动将AOI应用于测量
- 计算均匀性
软件每次测量自动更新AOI阵列,无需高精度夹具辅助。支持形状不规则的显示器。