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PKG-Uniformity


l  可一次分析多个显示屏

l  生成用户定义的AOI模式

l  突出显示最小和最大亮度点位置

l  自由编辑均匀性结果

l  DFF点扫描均匀性

l  测量快速



描述
规格
文件与下载

亮度和色度均匀性是显示器和背光的重要性能指标。通常固定显示区域中的测试网格来测量均匀性。均匀性分析套件使均匀性分析简单而快速

- 定义简单或非常复杂的兴趣区(AOI)阵列

- 自动将AOI应用于测量

- 计算均匀性

软件每次测量自动更新AOI阵列,无需高精度夹具辅助。支持形状不规则的显示器。