LED测试系统的应用

  在LED制造过程中，电气、光学和热测量直接在生产线上进行。因此，在所谓的“分档”过程中，LED被分为质量等级，以从高质量产品中分离出有缺陷的产品。尽管在生产批次中有强烈的波动，但每个分档都包含具有相同光电特性的LED。此外，在线测试的结果用于调整生产过程，以提高产量。

生产试验的条件和要求

  产线测试和实验室测试之间的主要区别是速度。在一条生产线上，每秒大约要测量十个LED。光学测量仪器必须与生产线的速度同步，并尽可能缩短测量时间。产线现场对于温度和湿度的控制不足也会造成很大的波动，测试设备长期处于振动过程中，需要能够连续运行。

  因此在生产测量时，高可靠性和低维护性的设备是必要的，同时也要这些设备能够提供持续精确的结果。

用积分球进行LED光通量测试

  在光通量测量中，不同LED的空间辐射特性意味着发射的光会在积分球内部的不同位置撞击。积分球的涂层和形状不规则会导致偏差。

这就是为什么为了保证测量结果的准确性，使用高质量的积分球是很有必要的。由于在进入光的正对面没有光学元件，在这一点上只有均匀的硫酸钡涂层能够减少测量方向的依赖性。下图中展示了积分球在产线上的应用。

用套筒进行LED光强测试

  发光强度是由一个特殊的适配器测量的也就是套筒。套筒包含一个带有精确定义检测区域的余弦校正检测器。 LED 放置在距套筒给定距离处，以免阻碍定位器的移动。 因此，杂散光可以进入发射器和检测器之间的空间，而来自套筒内部的光可以逸出到外部。 这会使测量失真。 虽然探测器被套筒外壳和两个挡板屏蔽，但还是建议测量环境需要足够暗。 套筒的测量端口可以通过玻璃板防尘。 将套筒连接到光谱仪的光纤的透射率可能不受定位器运动而引起机械振动的影响。下图为套筒在产线上的应用。

VCSEL测试系统的应用

在生产线上进行VCSEL测试

生产线中VCSEL和EEL的质量控制要求在毫秒内对 待测设备(DUT)进行完整的光学特性表征。为此， 积分球的组合(ISP)和一系列高分辨率光谱仪(CAS) 的组合是理想的快速和可靠的半导体激光二极管测 试系统(图2),确定关键性质例如质心波长和辐射功 率(图3)。高测量速度要求进行光谱测量通常只有一 个毫秒长光脉冲在集成光谱仪的时间窗口。

在这样的系统中，积分球使光场均匀，阵列分光辐射计 提供了必要的测量速度。对于高精度测量，建议采用自 吸收校正方法来校正由于DUT的波长相关反射率引起的 偏差。为此，有必要选择一个合适的辅助光源，其光谱 功率密度分布要合适。VCSEL的窄光谱带宽一般在纳米 范围内，需要具有亚纳米光谱分辨率的分光辐射计。仪 器系统提供CAS 140CT-HR和CAS 120-HR两个生产级 高分辨率光谱仪平台，以及用于半导体激光二极管测试 的集成球体和合适的辅助光源。这使得为客户提供宽带 测量解决方案成为可能。

在实验室进行VCSEL测试

  在消费电子和激光雷达领域的先进应用，推动vcsel驱动 脉冲的时间越来越短，而所需的峰值功率不断增加。目 前，标准的测试程序驱动vcsel只有几毫秒长的电脉冲。 然而，新的测试方案需要在纳秒级脉冲和数安培峰值电 流下工作。Instrument Systems满足了这一需求，为PVT 100提供了一个用于实验室应用的光电测试系统，驱动 脉冲短至1纳秒，同时提供高达10安的峰值电流。PVT 100通过采用多传感器方法使vcsel的完整光电特性成为 可能(图4)。

主要特点：

•高光谱分辨率可达0.12 nm 

•PTB 可追踪测量 

•高灵敏度与高通量 (UPH) 

•积分时间短至 9 ms CAS 140CT-HR 4 ms CAS 120-HR 

•可选的辅助光源，用于DUT特定的自吸收校正